顯微鏡資訊：檢驗(yàn)與質(zhì)量-樣品無(wú)損檢驗(yàn)-偏光顯微鏡

檢驗(yàn)與質(zhì)量-樣品無(wú)損檢驗(yàn)-偏光顯微鏡

檢驗(yàn)和控制方法檢驗(yàn)和質(zhì)量控制方法涉及材料和結(jié)構(gòu)的常規(guī)表征。熒光顯微鏡以紫外線為光源， 用以照射被檢物體， 使之發(fā)出熒光， 然后在顯微鏡下觀察物體的形狀及其所在位置。熒光顯微鏡用于研究細(xì)胞內(nèi)物質(zhì)的吸收、運(yùn)輸、化學(xué)物質(zhì)的分布及定位等。偏光顯微鏡用于研究所謂透明與不透明各向異性材料的一種顯微鏡。這種顯微鏡的載物臺(tái)是可以旋轉(zhuǎn)的，當(dāng)載物臺(tái)上放入單折射的物質(zhì)時(shí)，無(wú)論如何旋轉(zhuǎn)載物臺(tái)，由于兩個(gè)偏振片是垂直的，顯微鏡里看不到光線，而放入雙折射性物質(zhì)時(shí)，由于光線通過(guò)這類(lèi)物質(zhì)時(shí)發(fā)生偏轉(zhuǎn)，因此旋轉(zhuǎn)載物臺(tái)便能檢測(cè)到這種物體。體視顯微鏡一臺(tái)儀器。指從不同角度觀察物體,使雙眼引起立體感覺(jué)的雙目顯微鏡。只要有代表性和意義，材料或結(jié)構(gòu)的任何性質(zhì)都可以利用。機(jī)械性能測(cè)試通常用于這些目的，但它們需要制備特殊的樣品，這些樣品將在測(cè)試中被破壞。至少樣品應(yīng)該代表正在制造的產(chǎn)品的特性，*好在實(shí)驗(yàn)的基礎(chǔ)上與它的使用性能聯(lián)系起來(lái)。這也是因?yàn)檫@些檢測(cè)是經(jīng)常做的，樣品的準(zhǔn)備會(huì)非?？菰锖桶嘿F。當(dāng)然，這適用于任何參數(shù)的“破壞性”測(cè)量。因此，無(wú)損檢測(cè)越來(lái)越受到重視。它不需要消耗樣本。有兩種*常見(jiàn)的NDI技術(shù)，即聲發(fā)射和超聲波，而其他技術(shù)包括一些基于熱分析、射線照相術(shù)和化學(xué)能光譜學(xué)的方法。從分析中得到的各種置信度的容許極限可以用控制圖的形式來(lái)表示。偏離預(yù)定的公差極限可以作為一種手段，合格的分類(lèi)方法。對(duì)每個(gè)車(chē)廂簡(jiǎn)單的分類(lèi)\\u002Fnonconformity可以避免產(chǎn)品供應(yīng)商的尷尬和*終用戶(hù)的風(fēng)險(xiǎn)，但這些方法都極其昂貴，因?yàn)閳?bào)廢的產(chǎn)品有限，除非報(bào)廢的零件可以以某種方式重新使用。尚不清楚傳統(tǒng)的質(zhì)量控制方法能否用于提供反饋，從而影響甚至直接控制生產(chǎn)過(guò)程。但如果反饋只是基于通過(guò)\\u002Ffail準(zhǔn)則，根據(jù)解釋?zhuān)挥性谝粋€(gè)材料失敗后才能生效。換句話(huà)說(shuō)，這個(gè)反饋是追溯性的。近年來(lái)，人們已經(jīng)注意到開(kāi)發(fā)和利用能夠在制造過(guò)程中監(jiān)控質(zhì)量趨勢(shì)的方法，這些方法能夠在制造零件之前識(shí)別隱藏的廢料問(wèn)題。由于工藝過(guò)程不斷受到影響，這些方法被稱(chēng)為實(shí)際規(guī)?；蚪y(tǒng)計(jì)過(guò)程控制方法，而對(duì)于定時(shí)制造等正常方法非常重要的℃usum圖可以作為相對(duì)簡(jiǎn)單系統(tǒng)的基礎(chǔ)。